ace 2 X visSWIR: 눈에 보이지 않는 ‍부분도 ‍검사 가능한 단파 적외선(SWIR) 카메라

SWIR 카메라는 눈에 보이지 않는 ‍부분도 ‍
검사할 수 있습니다.

단파장 적외선(SWIR) 카메라는 
보안 기능 확인, 복잡한 구조물 투과, 
숨겨진 물체 감지, 채워진 상태 감지 등
다양한 어플리케이션에 유용합니다.

 

혁신적인 펌웨어 기능으로 두 가지 장점 모두 누리기

당사의 ace 2 X visSWIR 카메라는 냉각식 카메라의 높은 이미지 품질과 비냉각식 카메라의 크기와 가격을 결합한 제품입니다.

InGaAs 기술을 기반으로 하는 SWIR 센서(단파장 적외선, SWIR)는 이미지에 흰색 점으로 보이는 픽셀 결함이 생기는 경향이 있습니다. 노출 시간이 길어지거나 센서 온도가 높아지면 이러한 현상은 더욱 심해집니다. 이로 인해 냉각 기능이 있는 카메라가 자주 사용되지만 이는 카메라의 크기와 가격을 높인다는 단점이 있습니다.

 

픽셀 보정 기능(Pixel Correction Beyond)으로 픽셀 결함 없이 선명한 이미지

왼쪽: 픽셀 보정 기능이 있는 비냉각식 ace 2 X visSWIR 카메라 | 오른쪽: 비냉각식 비교 카메라

InGaAs 센서의 일반적인 픽셀 결함은 이미지 처리에 부정적인 영향을 미칠 수 있습니다. 픽셀 보정 기능은 픽셀 결함을 보정하는 기능으로, 당사 SWIR 카메라가 뛰어난 이미지 품질을 제공할 수 있는 이유 중 하나입니다.

이 기능은 당사에서 개발한 알고리즘을 기반으로 합니다. 사용 중에 각 이미지의 픽셀 결함을 인식하여 이미지 내용을 왜곡하지 않고 카메라의 FPGA에서 직접 보정합니다.

 

라인 노이즈 감소로 균일한 배경 구현

왼쪽: 라인 노이즈감소 꺼짐 | 오른쪽: 라인 노이즈 감소 켜짐

VGA 또는 130만 화소(IMX991 또는 IMX990)의 SWIR 카메라에서도 고해상도 SWIR 카메라와 동일하게 우수한 이미지 품질을 얻기 위해 라인 노이즈 감소 기능이 탑재되어 있습니다.

이 기능은 이미지에서 가로 줄무늬로 표시되는 배경 노이즈를 실시간으로 최소화하여 보다 균일한 배경을 보장합니다.

 

SWIR 기술과 Basler의 독특한 기능

 

Basler‍는 컴퓨터 비전 전문 ‍업체입니다.

 

바슬러(Basler), New 'ace 2 X visSWIR', 단파 적외선(SWIR) 에어리어 스캔 카메라